Was sind die verschiedenen Arten von Rastermikroskopen?

Es gibt verschiedene Arten von Rastermikroskopen, einschließlich des Rasterelektronenmikroskops, des Rastertunnelmikroskops und des Atomkraftmikroskops.Typischerweise bestehen Scanmikroskope aus einer Sonde oder einem Elektronenstrahl, der die Oberfläche einer Probe scannt.Die Wechselwirkung zwischen dem Rastermikroskop und der Probe erzeugt messbare Daten wie die Änderung der Strom, die Sondenablenkung oder die Produktion von Sekundärelektronen.Diese Daten werden verwendet, um ein Bild der Oberfläche der Probe auf Atomebene zu erstellen.

Das Rasterelektronenmikroskop ist eine von verschiedenen Arten von Rastermikroskopen, die zum Bild einer Probe verwendet werden.Das Mikroskop erkennt Signale, die sich aus der Wechselwirkung seines Elektronenstrahls mit den Atomen auf der Oberfläche der Probe ergeben.In der Regel werden verschiedene Arten von Signalen hergestellt, einschließlich Licht, Röntgenstrahlen und Elektronen.

Es gibt verschiedene Arten von Elektronen, die durch dieses Mikroskop gemessen werden können, einschließlich übertragener Elektronen, Rückstreuelektronen und sekundären Elektronen.Typischerweise haben Rasterelektronenmikroskope einen Detektor für sekundäre Elektronen, bei denen Elektronen aus einer primären Strahlungsquelle, nämlich der Elektronenstrahl, abgelöst werden.Die sekundären Elektronen geben Informationen über die physikalische Struktur der Oberfläche auf atomarer Ebene.Im Allgemeinen bildet das Mikroskop ein Bereich von 1-5 Nanometern.Das Scan -Tunnelmikroskop verfügt über eine leitende Spitze, die sehr nahe an der Probe platziert ist.Eine Spannungsdifferenz zwischen der leitenden Spitze und der Probe bewirkt, dass Elektronen von der Probe bis zur Spitze Tunnel tunnieren.

Wenn sich die Elektronen kreuzen, wird ein Tunnelstrom gebildet und gemessen.Wenn sich die leitende Spitze bewegt, ändert sich der Strom und spiegelt Unterschiede in Höhe oder Dichte auf der Oberfläche der Probe wider.Mit diesen Daten wird ein Bild der Oberfläche auf Atomebene konstruiert.

Das Atomkraftmikroskop ist ein weiteres Rastermikroskop mit einer Sonde.Es besteht aus einem Ausleger und einer scharfen Spitze, die in der Nähe der Oberfläche der Probe platziert ist.Wenn sich die Spitze der Probe nähert, führen die Kräfte zwischen der Spitze und der Probe den Ausleger ab.Typischerweise umfassen Kräfte die mechanische Kontaktkraft, die Van der Waals -Kraft und die elektrostatische Kraft.

Typischerweise wird die Auslegerauslenkung unter Verwendung eines Lasers gemessen, der sich auf die obere Oberfläche des Auslegers konzentriert.Die Ablenkung zeigt die physikalische Form der Oberfläche an einem bestimmten Punkt.Sowohl die Probe als auch die Sonde werden bewegt, um die gesamte Oberfläche zu scannen.Ein Bild wird aus den vom Laser erhaltenen Daten erstellt.