Cos'è uno scatterometro?

Uno scatterometro è un dispositivo di misurazione di precisione che trasmette energia a microonde e legge i riflessi della luce sparsi da una superficie target al fine di ottenere dati dimensionali.La luce "backscatter" può essere letta come sovrapposizioni grafiche o di colore dell'imaging di superficie target, consentendo così osservazioni e misurazioni molto accurate.Questa tecnologia è utilizzata in laboratorio, sul campo e in satelliti per numerose applicazioni scientifiche, industriali e militari.Alcuni usi includono la misurazione di altezze e flussi di onde oceaniche per determinare la direzione del vento e la velocità per l'analisi e il monitoraggio della corrente oceanica;Inoltre, la dispersione può misurare la topografia, gli eventi climatici e meteorologici globali e la costruzione di microcircuiti di precisione e nanotecnologie.

Le misurazioni di scatterometro si comportano attraverso condizioni avverse, sostituendo tecnologie inesatte che possono essere contrastate dalle irregolarità dalla copertura delle nuvole ai fogli di attrezzature ottiche.L'uso di impulsi a microonde fornisce un feedback esatto di segnale e rumore, che fornisce una raccolta di dati chiara, affidabile e ripetibile.I dati ottenibili da questa tecnologia generano nuove aree di indagine per gli scienziati in molti campi, tra cui industrie marittime, in cui la dispersione fornisce approfondimenti su modelli meteorologici, pesca, sicurezza marina e clima globale.

Utilizzo di rilevatori ottici e laser di lunghezze d'onda diversepuò determinare le caratteristiche ottiche delle superfici e dei substrati sottostanti.La tecnologia a terra può utilizzare i riflettori parabolici, i sottosistemi a radiofrequenza (RF), l'elettronica di frequenza intermedia (IF) e le unità di acquisizione dei dati.Tali sistemi possono monitorare i dati di backscatter da terreni come foreste, suolo e vegetazione.

Nella produzione, la dispersione viene utilizzata nella costruzione di semiconduttori che a volte richiedono misurazione a livello atomico.I semiconduttori possiedono molti strati che richiedono un allineamento di precisione fino alla scala del nanometro.La metrologia, o lo studio e lo sviluppo di sistemi di misurazione, hanno abbracciato la dispersione, che supera anche la tecnologia di sovrapposizione di imaging condotta con potenti microscopi.Piuttosto che sovrapposti a immagini, gli ingegneri disperdono varie lunghezze d'onda di luce attraverso i wafer a semiconduttore e misurano la loro riflettanza bidirezionale utilizzando software e algoritmi.Ciò consente misurazioni esatte di minimi disallineamenti senza dipendere dall'ottica o dall'operazione del microscopio irregolare. La tecnologia a dispersione consente un'analisi rapida e non distruttiva di materiali o superfici mediante un'attenta analisi della luce diffratta rispetto ai cambiamenti nella forma di linea di una superficie di scattering periodica.Questa tecnologia è collocata in numerosi satelliti che monitorano le sezioni trasversali radar uniformi, o "fasce, della superficie dei globi.Insieme alla tecnologia di mappatura, ai sistemi di comunicazione e ad altri servizi meteorologici o di ricerca e salvataggio, ciò consente di visualizzare chiaramente l'umidità del suolo agli eventi vulcaniciRiflessione della luce da superfici reali utilizzate in ottica, termodinamica e scienze informatiche.Le innovazioni come lo scatterometro a cupola consentono la misurazione di più diffrazioni ad angoli di incidenza multipli, compresa la luce sparsa dagli angoli di zenit e azimut.Ciò consente una maggiore sensibilità nella lettura della struttura di scattering, consentendo di acquisire maggiori quantità di dati in un tempo più breve.