スキャン顕微鏡のさまざまな種類は何ですか？

scaning走査型電子顕微鏡、走査型トンネル顕微鏡、原子間力顕微鏡など、いくつかのタイプの走査顕微鏡があります。通常、スキャン顕微鏡は、サンプルの表面をスキャンするプローブまたは電子のビームで構成されています。スキャン顕微鏡とサンプル間の相互作用は、電流の変化、プローブのたわみ、または二次電子の産生などの測定可能なデータを生成します。このデータは、原子レベルでサンプルの表面の画像を作成するために使用されます。scaning走査型電子顕微鏡は、サンプルの画像に使用されるいくつかのタイプのスキャン顕微鏡の1つです。顕微鏡は、その電子ビームとサンプルの表面上の原子との相互作用に起因する信号を検出します。通常、光、X線、電子など、いくつかのタイプの信号が生成されます。consmed透過電子、腰散乱電子、および二次電子を含むこの顕微鏡で測定できる電子にはいくつかの種類があります。通常、走査型電子顕微鏡には、二次電子の検出器があり、これは放射の主要な源、つまり電子ビームから生成される電子を取り外します。二次電子は、原子レベルの表面の物理的構造に関する情報を提供します。一般に、顕微鏡は1〜5ナノメートルの面積を画像化します。スキャントンネリング顕微鏡は、サンプルの非常に近くに配置された導電性チップを備えています。導電性チップとサンプルの間の電圧の差により、電子はサンプルから先端までトンネルになります。導電性の先端が移動すると、現在の変化があり、サンプルの表面の高さまたは密度の違いを反映しています。このデータを使用すると、原子レベルの表面の画像が構築されます。Atomic原子間力顕微鏡は、プローブを特徴とする別のスキャン顕微鏡です。カンチレバーと、サンプルの表面の近くに配置された鋭い先端で構成されています。先端がサンプルに近づくと、先端とサンプルの間の力により、カンチレバーが偏向します。通常、力には機械的接触力、ファンデルワールス力、静電力が含まれます。cantsed換え、片持ちのたわみは、カンチレバーの上面に焦点を合わせたレーザーを使用して測定されます。たわみは、特定のポイントで表面の物理的な形状を明らかにします。サンプルとプローブの両方が移動して、表面全体をスキャンします。画像は、レーザーによって取得されたデータから構築されています。