Wat is een scatterometer?

Een scatterometer is een precisiemeetapparaat dat microgolfenergie overbrengt en reflecties van licht verspreid terug van een doeloppervlak leest om dimensionale gegevens te verkrijgen.Het "terugverstrooide" licht kan worden gelezen als grafische of kleurplotoverlays van de beoogde oppervlakte -beeldvorming, waardoor zeer nauwkeurige waarnemingen en metingen mogelijk worden toegestaan.Deze technologie wordt gebruikt in het laboratorium, in het veld en in satellieten voor tal van wetenschappelijke, industriële en militaire toepassingen.Sommige toepassingen omvatten het meten van oceanische golfhoogten en -stromen om de windrichting en snelheid te bepalen voor oceanische stroomanalyse en monitoring;Bovendien kan scatterometrie topografie, wereldwijde klimaat- en weersomstandigheden meten en de constructie van precisiemicrocircuits en nanotechnologie.

Scatterometermetingen presteren door negatieve omstandigheden, het vervangen van onnauwkeurige technologieën die kunnen worden gedwarsbold door onregelmatigheden van onregelmatigheden van wolkendeksel tot optische apparatuurfouts.Het gebruik van magnetronpulsen biedt exacte feedback van signaal en ruis, die een duidelijke, betrouwbare en herhaalbare gegevensverzameling biedt.De gegevens die uit deze technologie verkrijgbaar zijn, genereren nieuwe onderzoeksgebieden voor wetenschappers op vele gebieden, waaronder maritieme industrieën, waar scatterometrie inzichten biedt in weerpatronen, visserijen, mariene veiligheid en globaal klimaat.kan de optische kenmerken van oppervlakken en onderliggende substraten bepalen.Op de grond gebaseerde technologie kan gebruik maken van parabolische reflectoren, radiofrequentie (RF) subsystemen, intermediaire frequentie (IF) elektronica en data-acquisitie-eenheden.Dergelijke systemen kunnen backscatter -gegevens van terrein zoals bossen, bodem en vegetatie controleren.

In de productie wordt de scatterometer gebruikt bij de constructie van halfgeleiders die soms meten op atoomniveau vereisen.Halfgeleiders bezitten veel lagen die een precisie -uitlijning nodig hebben tot de nanometerschaal.Metrologie, of het onderzoek en de ontwikkeling van meetsystemen, heeft scatterometrie omarmd, die beter presteert dan de beeldvormende overlay -technologie die wordt uitgevoerd met krachtige microscopen.In plaats van beelden te overlapen, verspreiden ingenieurs gevarieerde golflengten van licht over de halfgeleidende wafels en meten hun bidirectionele reflectie met behulp van software en algoritmen.Dit maakt exacte metingen mogelijk van minimale verkeerde uitlijningen zonder afhankelijk te zijn van onregelmatige microscoopoptica of werking.

Scatterometer-technologie maakt een snelle, niet-destructieve analyse van materialen of oppervlakken mogelijk door een zorgvuldige analyse van gediffracteerd licht in vergelijking met veranderingen in de lijnvorm van een periodiek verstrooiingsoppervlak.Deze technologie wordt in tal van satellieten geplaatst die uniforme radardoorsneden, of 'zwaden, van het oppervlak van de bollen bewaken.In combinatie met het toewijzen van technologie, communicatiesystemen en ander weer of zoek- en reddingsdiensten, kan dit alles van bodemvocht tot vulkanische gebeurtenissen duidelijk worden weergegeven in precieze dimensionale veranderingen.

De bidirectionele reflectiedistributiefunctie (BRDF) beschrijft de materiële eigenschap van de materiële eigenschap vanLichte reflectie van echte oppervlakken die worden gebruikt in optica, thermodynamica en computerwetenschappen.Innovaties zoals de koepelspatterometer maken meten meting van meerdere diffracties bij meerdere invalshoeken, waaronder licht verspreid uit zenith- en azimuthoeken.Dit maakt een grotere gevoeligheid mogelijk bij het lezen van de verstrooiingsstructuur, waardoor grotere hoeveelheden gegevens in een kortere tijd kunnen worden verkregen.