Vilka är de olika typerna av skanningsmikroskop?

Det finns flera typer av skanningsmikroskop inklusive skanningselektronmikroskop, skanning av tunnelmikroskop och atomkraftsmikroskop.Vanligtvis består skanningsmikroskop av en sond eller en stråle av elektroner som skannar ytan på ett prov.Interaktionen mellan skanningsmikroskopet och provet producerar mätbara data, såsom förändringen i ström, sondavböjning eller produktion av sekundära elektroner.Dessa data används för att skapa en bild av provet på atomnivån.

Skanningselektronmikroskopet är en av flera typer av skanningsmikroskop som används för att avbilda ett prov.Mikroskopet upptäcker signaler som härrör från interaktionen mellan dess elektronstråle med atomerna på provet.Flera typer av signaler produceras vanligtvis inklusive ljus, röntgenstrålar och elektroner.

Det finns flera typer av elektroner som kan mätas med detta mikroskop inklusive överförda elektroner, ryggspridda elektroner och sekundära elektroner.Vanligtvis har skanningselektronmikroskop en detektor för sekundära elektroner, som lossnar elektroner producerade från en primär strålningskälla, nämligen elektronstrålen.De sekundära elektronerna ger information om den fysiska strukturen på ytan på atomnivån.I allmänhet bildar mikroskopet ett område med 1-5 nanometrar.

Skanning av mikroskop som använder en sond, såsom skanningstunnelmikroskop, producerar högre upplösningsbilder än skanningselektronmikroskopet.Skanningstunnelmikroskopet har en ledande spets som placeras mycket nära provet.En spänningsskillnad mellan ledningsspetsen och provet får elektroner att tunnel från provet till spetsen.

När elektronerna korsar bildas och mäts en tunnelström.När den ledande spetsen flyttas förändras de nuvarande, vilket återspeglar skillnader i höjd eller densitet på provet.Med dessa data konstrueras en bild av ytan på atomnivån.

Atomic Force Microscope är ett annat skanningsmikroskop som har en sond.Den består av en utskjutning och en skarp spets som placeras nära provet.När spetsen närmar sig provet får krafter mellan spetsen och provet utskjutningen avböjning.Vanligtvis inkluderar krafter mekanisk kontaktkraft, van der Waals kraft och elektrostatisk kraft.

Vanligtvis mäts utskjutningsavböjningen med hjälp av en laser som är fokuserad på den övre ytan på utskjutningen.Avböjningen avslöjar ytans fysiska form vid en viss punkt.Både provet och sonden flyttas för att skanna hela ytan.En bild är konstruerad av de data som erhållits av lasern.