散乱計とは何ですか？

scatter散乱計とは、マイクロ波エネルギーを伝達する精度測定デバイスであり、寸法データを取得するためにターゲット表面から散らばった光の反射を読み取ります。「後方散乱」ライトは、ターゲット表面イメージングのグラフィカルまたはカラープロットオーバーレイとして読み取ることができ、非常に正確な観測と測定を可能にします。この技術は、研究室、現場、および多数の科学的、産業、軍事用途の衛星で利用されています。いくつかの用途には、海洋の波の高さと流れの測定が含まれ、海洋電流分析と監視の風向と速度を決定します。さらに、散乱体測定は、地形、世界の気候および気象現象、精密なマイクロサーキットとナノテクノロジーの構築を測定できます。マイクロ波パルスを使用すると、信号とノイズの正確なフィードバックが提供されます。これは、明確で信頼性が高く、反復可能なデータ収集を提供します。この技術から入手可能なデータは、散乱体が気象パターン、漁業、海洋安全性、世界の気候に関する洞察を提供する海事産業を含む多くの分野の科学者のための新しい照会領域を生み出します。表面と基礎となる基質の光学特性を決定できます。地上技術は、放物線リフレクター、無線周波数（RF）サブシステム、中間周波数（IF）エレクトロニクス、およびデータ収集ユニットを利用する場合があります。このようなシステムは、森林、土壌、植生などの地形からの後方データを監視できます。半導体には、ナノメートルスケールまでの精度アライメントが必要な多くの層があります。計測、または測定システムの研究と開発は、散乱体測定を採用しており、これは強力な顕微鏡で実施されたイメージングオーバーレイ技術さえも優れています。画像にオーバーレイするのではなく、エンジニアは半導体のウェーハ全体でさまざまな波長の光を散乱させ、ソフトウェアとアルゴリズムを使用して双方向反射率を測定します。これにより、不規則な顕微鏡の光学系や動作に依存することなく、微小整列の正確な測定が可能になります。この技術は、均一なレーダー断面または「球面の表面積の「スワス」を監視する多数の衛星に配置されています。マッピングテクノロジー、通信システム、その他の天気や捜索救助サービスと相まって、これにより、土壌の水分から火山イベントまで、すべてを正確な次元の変化で明確に表示できます。光学、熱力学、およびコンピューター科学で使用される実際の表面からの光反射。ドーム散乱計などのイノベーションにより、ゼニスや方位角から散在する光を含む、複数の発生率で複数の回折の測定が許可されます。これにより、散乱構造を読み取る際の感度が向上し、短時間で大量のデータを取得できます。