Ano ang isang Scatterometer?

Ang isang pagkakalat ay isang aparato ng pagsukat ng katumpakan na nagpapadala ng enerhiya ng microwave, at binabasa ang mga pagmumuni -muni ng ilaw na nakakalat mula sa isang target na ibabaw upang makakuha ng dimensional na data.Ang "backscattered" na ilaw ay maaaring basahin bilang mga graphic o kulay na plot overlay ng target na imaging ibabaw, sa gayon pinapayagan ang tumpak na mga obserbasyon at pagsukat.Ang teknolohiyang ito ay ginagamit sa laboratoryo, sa larangan, at sa mga satellite para sa maraming aplikasyon sa pang -agham, pang -industriya, at militar.Ang ilang mga gamit ay may kasamang pagsukat ng mga taas ng alon ng karagatan at daloy upang matukoy ang direksyon ng hangin at bilis para sa kasalukuyang pagsusuri at pagsubaybay sa karagatan;Bilang karagdagan, ang pagkakalat ay maaaring masukat ang topograpiya, pandaigdigang mga kaganapan sa klima at panahon, at ang pagtatayo ng mga katumpakan na microcircuits at nanotechnology.Ang paggamit ng mga pulses ng microwave ay nagbibigay ng eksaktong puna ng signal at ingay, na nagbibigay ng malinaw, maaasahan, at paulit -ulit na pagkolekta ng data.Ang data na makukuha mula sa teknolohiyang ito ay bumubuo ng mga bagong lugar ng mga katanungan para sa mga siyentipiko sa maraming larangan, kabilang ang mga industriya ng maritime, kung saan ang pagkakalat ay nagbibigay ng mga pananaw sa mga pattern ng panahon, pangisdaan, kaligtasan sa dagat, at pandaigdigang klima.maaaring matukoy ang mga optical na katangian ng mga ibabaw at pinagbabatayan na mga substrate.Ang teknolohiyang batay sa ground ay maaaring gumamit ng mga parabolic reflectors, radio frequency (RF) subsystem, intermediate frequency (IF) electronics, at mga yunit ng pagkuha ng data.Ang mga nasabing system ay maaaring masubaybayan ang data ng backscatter mula sa lupain tulad ng kagubatan, lupa, at halaman.Ang mga Semiconductors ay nagtataglay ng maraming mga layer na nangangailangan ng pag -align ng katumpakan hanggang sa scale ng nanometer.Ang Metrology, o ang pag -aaral at pag -unlad ng mga sistema ng pagsukat, ay yumakap sa pagkakalat, na kung saan ang mga outperforms kahit na ang teknolohiyang overlay ng imaging isinasagawa na may malakas na mga mikroskopyo.Sa halip na mag -overlay ng mga imahe, ang mga inhinyero ay nagkalat ng iba't ibang mga haba ng haba ng ilaw sa buong semiconducting wafers, at sukatin ang kanilang bidirectional na pagmuni -muni gamit ang software at algorithm.Pinapayagan nito ang eksaktong mga sukat ng mga minuto na misalignment nang hindi nakasalalay sa hindi regular na mikroskopyo na optika o operasyon.

Ang teknolohiyang Scatterometer ay nagpapahintulot sa mabilis, hindi mapanirang pagsusuri ng mga materyales o ibabaw sa pamamagitan ng maingat na pagsusuri ng naiiba na ilaw kumpara sa mga pagbabago sa linya ng linya ng isang pana-panahong pagkakalat na ibabaw.Ang teknolohiyang ito ay inilalagay sa maraming mga satellite na sinusubaybayan ang pantay na mga seksyon ng radar cross, o "swaths, ng lugar ng ibabaw ng Globes.Kaisa sa teknolohiya ng pagmamapa, mga sistema ng komunikasyon, at iba pang mga serbisyo sa panahon o paghahanap at pagsagip, pinapayagan nito ang lahat mula sa kahalumigmigan ng lupa hanggang sa mga kaganapan sa bulkan na malinaw na ipinapakita sa tumpak na mga pagbabago sa dimensional.Banayad na pagmuni -muni mula sa mga tunay na ibabaw na ginamit sa optika, thermodynamics, at mga agham sa computer.Ang mga makabagong ideya tulad ng pagsukat ng simboryo ng pagsukat ng maraming mga pagkakaiba -iba sa maraming mga anggulo ng saklaw, kabilang ang ilaw na nakakalat mula sa mga anggulo ng zenith at azimuth.Pinapayagan nito ang higit na pagiging sensitibo sa pagbabasa ng istraktura ng pagkalat, na nagpapahintulot sa pagkuha ng mas malaking halaga ng data sa isang mas maikling oras.